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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis

Andrei Benediktovich, Ilya Feranchuk, Alexander Ulyanenkov (Gebundene Ausgabe, Englisch)

Optischer Zustand
Beschreibung
This book provides a concise survey of modern theoretical concepts of X-ray materials analysis. The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and matter and new theoretical concepts of X-ray scattering. The various X-ray techniques are considered in detail: high-resolution X-ray diffraction, X-ray reflectivity, grazing-incidence small-angle X-ray…  scattering and X-ray residual stress analysis. All the theoretical methods presented use the unified physical approach. This makes the book especially useful for readers learning and performing data analysis with different techniques. The theory is applicable to studies of bulk materials of all kinds, including single crystals and polycrystals as well as to surface studies under grazing incidence. The book appeals to researchers and graduate students alike.
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Details


Erscheinungsdatum
18.09.2013
Sprache
Englisch
EAN
9783642381768
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Springer Series in Materials Science
Sonderedition
Nein
Autor
Andrei Benediktovich, Ilya Feranchuk, Alexander Ulyanenkov
Seitenanzahl
318
Auflage
1
Einbandart
Gebundene Ausgabe

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